本發(fā)明公開了一種具有薄膜光學窗片的
電化學譜學原位池及其應用,所述電化學譜學原位池包括電化學池本體,作為光學窗片的薄膜材料窗片,進液口、出液口和檢測口,排氣孔,密封橡膠圈,L型玻璃管和上蓋板。本發(fā)明利用納米至原子級厚度薄膜高透光率的特點,將光學窗片對光信號的散射和削弱降到最低。在譜學原位表征窗片薄膜和相應的范德華異質(zhì)結(jié)構(gòu)薄膜的光電化學性能的過程中,還可以完全排除空氣或溶液對譜學信號和光信號的干擾。本發(fā)明的電化學譜學原位池可以實現(xiàn)薄膜電極表面電化學行為的高靈敏度原位譜學表征,并在極限離子濃度檢測方面具有實用價值。
聲明:
“具有薄膜光學窗片的電化學譜學原位池及其應用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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