本發(fā)明一種X射線熒光分析校準(zhǔn)所用校準(zhǔn)樣品的制備和定值方法,利用實(shí)驗(yàn)室收到的實(shí)際樣品為基體,通過(guò)摻入基準(zhǔn)試劑(或替代試劑)來(lái)制備校準(zhǔn)樣品。校準(zhǔn)樣品的數(shù)量及各成份的質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍可以任意控制,校準(zhǔn)樣品的定值全部通過(guò)X射線熒光儀完成,無(wú)需進(jìn)行化學(xué)分析,配備X-射線熒光分析儀的實(shí)驗(yàn)室即可自行制備校準(zhǔn)樣品,無(wú)需化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室及相關(guān)技術(shù)人員協(xié)助。
聲明:
“X射線熒光分析校準(zhǔn)所用校準(zhǔn)樣品的制備和定值方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)