本發(fā)明屬于電極測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種帶有孔的旋轉(zhuǎn)電極裝置及
電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng),一體化聚四氟乙烯支持體上側(cè)設(shè)置有圓盤電極和圓環(huán)電極,圓環(huán)電極設(shè)置于所述圓盤電極外側(cè);圓盤電極與圓環(huán)電極之間和圓環(huán)電極外側(cè)均設(shè)置有聚四氟乙烯層;圓盤電極上側(cè)設(shè)置有第一貴金屬鉑層,第一貴金屬鉑層上側(cè)設(shè)置有帶通孔的聚四氟乙烯薄膜;圓環(huán)電極上側(cè)設(shè)置有第二貴金屬鉑層。帶通孔的聚四氟乙烯薄膜上開(kāi)設(shè)有若干通孔;通孔直徑為10μm和100μm。圓盤電極高度低于所述圓環(huán)電極100μm,帶通孔的聚四氟乙烯薄膜上側(cè)與所述圓環(huán)電極齊平。本發(fā)明能夠同時(shí)模擬在電鍍時(shí)孔底部與銅面的情況,本發(fā)明能夠提高測(cè)試的準(zhǔn)確性,降低系統(tǒng)誤差。
聲明:
“帶有孔的旋轉(zhuǎn)電極裝置及電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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