本申請涉及化學(xué)電離質(zhì)譜技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種測量化學(xué)電離反應(yīng)時間的方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì),通過在化學(xué)電離源上施加脈沖電壓信號,產(chǎn)生主離子,獲取所述主離子的質(zhì)譜TTL反饋信號,再獲取信號隨時間變化的序列圖,所述信號包括所述脈沖電壓信號及所述質(zhì)譜TTL反饋信號,最后,根據(jù)所述序列圖中的所述質(zhì)譜TTL反饋信號的半高處對應(yīng)的時間與所述脈沖電壓信號起始對應(yīng)的時間,計算得到化學(xué)電離反應(yīng)時間。本發(fā)明根據(jù)脈沖電壓信號與質(zhì)譜TTL反饋信號的譜圖之間的特征確定化學(xué)電離反應(yīng)時間,可以提高化學(xué)電離反應(yīng)時間測量的準(zhǔn)確性,且方法簡單易行。
聲明:
“測量化學(xué)電離反應(yīng)時間的方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)