本發(fā)明屬于表面化學(xué)領(lǐng)域,具體涉及一種測(cè)定氧化物表面化學(xué)基團(tuán)數(shù)密度的方法。本發(fā)明通過測(cè)定等電點(diǎn)下接觸角數(shù)據(jù)計(jì)算氧化物單位面積表面上化學(xué)基團(tuán)數(shù)量,利用氧化物表面zeta電位數(shù)據(jù)計(jì)算出氧化物單位面積表面上帶
電化學(xué)基團(tuán)數(shù)量,該方法能測(cè)定氧化物表面上不同類型帶電化學(xué)基團(tuán)數(shù)密度。
聲明:
“測(cè)定氧化物表面化學(xué)基團(tuán)數(shù)密度的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)