本發(fā)明涉及一種大氣高?;瘜W(xué)品探測的太赫茲自反饋系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:探測裝置、機(jī)械調(diào)節(jié)裝置、處理器和移動承載裝置,所述探測裝置用于探測大氣高?;瘜W(xué)品大氣高?;瘜W(xué)品種類和濃度信息;所述機(jī)械調(diào)節(jié)裝置用于調(diào)節(jié)所述探測裝置的位置;所述處理器用于處理所述探測裝置探測到的大氣高?;瘜W(xué)品的種類和濃度信息并控制所述機(jī)械調(diào)節(jié)裝置和所述移動承載裝置,所述移動承載裝置用于承載所述大氣高?;瘜W(xué)品系統(tǒng)大氣高?;瘜W(xué)品在空間內(nèi)移動;所述機(jī)械調(diào)節(jié)裝置一端與所述承載裝置連接,另一端與所述探測裝置連接。所述自反饋系統(tǒng)探測位置可調(diào)性高,探測空間坐標(biāo)目的性高,重復(fù)率小。
聲明:
“大氣高危化學(xué)品探測的太赫茲自反饋系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)