本發(fā)明涉及檢測(cè)樣品中的分析物的方法。該方法包括以下步驟:將該樣品暴露于具有熱電或壓電元件和電極的能夠?qū)⒛芰孔兓D(zhuǎn)換成電信號(hào)的轉(zhuǎn)換器,該轉(zhuǎn)換器具有至少一種與其鄰近的試劑,該試劑具有能夠結(jié)合該分析物或該分析物的復(fù)合物或衍生物的結(jié)合部位,其中該分析物或該分析物的復(fù)合物或衍生物中的至少一種具有附著于其的標(biāo)記,該標(biāo)記能夠吸收由輻射源產(chǎn)生的電磁輻射而通過非輻射衰減產(chǎn)生能量;用一系列電磁輻射的脈沖輻射該試劑,將產(chǎn)生的能量轉(zhuǎn)換成電信號(hào);檢測(cè)該電信號(hào)和來(lái)自該輻射源的每一電磁輻射脈沖和電信號(hào)的產(chǎn)生之間的延時(shí)。電磁輻射脈沖的每一個(gè)和電信號(hào)的產(chǎn)生之間的延時(shí)對(duì)應(yīng)于在與該轉(zhuǎn)換器表面不同距離處的一個(gè)或多個(gè)位置的任一位置的分析物的位置。該標(biāo)記是包含非導(dǎo)電芯材料和至少一個(gè)金屬殼層的納米顆粒。