本發(fā)明公開了一種高通量原位
電化學(xué)測試裝置和測試方法,包括大箱體、電化學(xué)測試系統(tǒng)、獨(dú)立腐蝕環(huán)境模塊和獨(dú)立參數(shù)控制模塊。大箱體用于提供統(tǒng)一的實(shí)驗(yàn)環(huán)境,獨(dú)立腐蝕環(huán)境模塊和獨(dú)立參數(shù)控制模塊共同實(shí)現(xiàn)高通量模擬不同的腐蝕環(huán)境,獨(dú)立腐蝕環(huán)境模塊為溫度腐蝕環(huán)境模塊、光照腐蝕環(huán)境模塊或溶液腐蝕環(huán)境模塊。根據(jù)所需測試的獨(dú)立腐蝕環(huán)境要求,組裝測試裝置,設(shè)定獨(dú)立環(huán)境參數(shù)條件和獨(dú)立電化學(xué)測試條件,能實(shí)現(xiàn)高通量原位電化學(xué)測試。本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn):能實(shí)現(xiàn)高通量的原位電化學(xué)表征,具有評價(jià)效率高、易操作、精確度高的特點(diǎn)。在金屬材料及其保護(hù)層的耐蝕性能的監(jiān)測與評估領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“高通量原位電化學(xué)測試裝置及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)