本發(fā)明公開(kāi)一種
電化學(xué)試片、測(cè)量系統(tǒng)及判斷電化學(xué)試片反應(yīng)區(qū)的樣品容量的方法。所述電化學(xué)試片包含絕緣基板,具有設(shè)置在其上的電極系統(tǒng),該電極系統(tǒng)包含至少一對(duì)電極組。下隔片設(shè)置于該絕緣基板上,且包含反應(yīng)區(qū)及樣品采樣口。上隔片設(shè)置于該下隔片上,其中該至少一對(duì)電極組為靠近該樣品采樣口的回路設(shè)計(jì)。
聲明:
“電化學(xué)試片、測(cè)量系統(tǒng)及判斷電化學(xué)試片反應(yīng)區(qū)的樣品容量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)