本發(fā)明涉及用于光源、探測(cè)器與分析器的附接與對(duì)準(zhǔn)裝置,以及模塊分析系統(tǒng),并且提供了一種用于結(jié)合光學(xué)分析系統(tǒng)的兩個(gè)或多個(gè)單獨(dú)部件的設(shè)備,以使用跨越諸如棧、燃燒室、導(dǎo)管或管道的測(cè)量空間的光學(xué)測(cè)量的共同入口與出口穿孔,從而以從相應(yīng)的光源到探測(cè)器的光學(xué)路徑基本上相同的方式,使得在諸如溫度與壓力分布和背景物質(zhì)濃度的等效周圍環(huán)境條件的情況下能夠在單個(gè)光學(xué)路徑或緊密對(duì)準(zhǔn)的光學(xué)路徑上方進(jìn)行多個(gè)光學(xué)測(cè)量。此設(shè)備與形成模塊系統(tǒng)的一組相互可連接的設(shè)備是有用的,例如,在吸收光譜中,諸如用于測(cè)量在測(cè)量體積中的流體的化學(xué)組分的數(shù)量分?jǐn)?shù)。
聲明:
“用于光源、探測(cè)器與分析器的附接與對(duì)準(zhǔn)設(shè)備,以及模塊分析系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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