本發(fā)明公開了一種用于
電化學(xué)檢測的微流控
芯片測試設(shè)備,屬于芯片檢測設(shè)備領(lǐng)域,一種用于電化學(xué)檢測的微流控芯片測試設(shè)備,包括檢測臺,檢測臺上滑動連接有一對檢測夾具,檢測夾具包括C型架,C型架上插接有兩對調(diào)節(jié)桿,調(diào)節(jié)桿包括立桿,立桿的上下兩端分別連接有調(diào)節(jié)螺母和,每對調(diào)節(jié)桿之間連接有活動板,活動板上固定連接有檢測探針,檢測臺的兩端之間連接有調(diào)節(jié)板,檢測臺的兩端均滑動連接有一對與調(diào)節(jié)板相匹配的調(diào)節(jié)架,本方案可以實(shí)現(xiàn)易于適應(yīng)任意形狀的PLC電路板,使PLC電路板可處以任意傾斜狀態(tài)進(jìn)行檢測,解決現(xiàn)有技術(shù)中固定微流控芯片的裝置穩(wěn)定性差、易偏移、無法應(yīng)用到精確實(shí)驗(yàn),有時會損壞芯片等問題。
聲明:
“用于電化學(xué)檢測的微流控芯片測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)