本申請公開了用于
電化學(xué)發(fā)光檢測設(shè)備的檢測裝置,該檢測裝置包括:檢測池,該檢測池固定或可移動(dòng)地設(shè)置于機(jī)架,所述檢測池用于接收被檢測目標(biāo)物復(fù)合體樣本;光學(xué)檢測器,該光學(xué)檢測器可移動(dòng)地設(shè)置于所述機(jī)架并位于所述檢測池的上方;電極組件,該電極組件設(shè)置于所述檢測池外部且與所述檢測池相鄰布置,用于為所述檢測池內(nèi)的空間提供直流電場;和磁性組件,該磁性組件為永磁體且布置于所述檢測池外部,所述磁性組件的磁場可選擇地設(shè)計(jì)為至少在部分程度上不干涉所述電極組件的直流電場。
聲明:
“用于電化學(xué)發(fā)光檢測設(shè)備的檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)