本發(fā)明涉及用于制造用于檢測至少一種氣態(tài)分析物的氣體傳感器裝置(100)的方法。所述方法(700)具有以下步驟:提供傳感器基體(110),所述半導體基體具有半導體襯底(112)和被布置在所述半導體襯底(112)的第一主表面上的固體電解質(zhì)層(116),至少一個腔區(qū)段(114)成形在所述半導體襯底中。在此所述固體電解質(zhì)層(116)在所述至少一個腔區(qū)段(114)中未被所述半導體襯底(112)覆蓋。所述方法還具有以下步驟:在所述傳感器基體(110)的半導體襯底側(cè)處生成以干化學方式沉積的信號傳導層(120),使得在所述至少一個腔區(qū)段(114)中未被所述半導體襯底(112)覆蓋的固體電解質(zhì)層(116)的區(qū)域中,至少一個缺口區(qū)段在所述信號傳導層(120)中成形,在所述缺口區(qū)段中移除了或者未沉積所述信號傳導層(120);此外,所述方法具有下述步驟:將至少兩個測量電極(130、140)借助于濕化學過程涂覆到所述固體電解質(zhì)層(116)上,其中第一測量電極(130)布置在所述信號傳導層(120)的所述至少一個缺口區(qū)段中,并且第二測量電極(140)布置在所述傳感器基體(110)的固體電解質(zhì)層側(cè)上。
聲明:
“用于制造用于檢測至少一種氣態(tài)分析物的氣體傳感器裝置的方法和用于檢測至少一種氣態(tài)分析物的氣體傳感器裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)