本發(fā)明提供一種納米晶材料檢測(cè)系統(tǒng)，從上游至下游依次包括剝料設(shè)備、搬運(yùn)設(shè)備、納米晶材料檢測(cè)設(shè)備及下料設(shè)備，所述剝料設(shè)備，用于對(duì)含有納米晶材料的來(lái)料進(jìn)行剝料，所述來(lái)料由從上至下依次層疊的隔離膜、納米晶材料、基膜所形成的層狀材料卷繞形成的料卷；所述搬運(yùn)設(shè)備，用于將經(jīng)過(guò)所述剝料設(shè)備剝料后的納米晶材料搬運(yùn)至納米晶材料檢測(cè)設(shè)備；納米晶材料檢測(cè)設(shè)備，用于將所述搬運(yùn)設(shè)備搬運(yùn)過(guò)來(lái)的所述納米晶材料進(jìn)行檢測(cè)；所述下料設(shè)備，用于將經(jīng)過(guò)所述納米晶材料檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)的納米晶材料進(jìn)行下料。根據(jù)本發(fā)明的納米晶材料檢測(cè)系統(tǒng)，能夠自動(dòng)化快速地進(jìn)行剝離、搬運(yùn)納米晶材料、檢測(cè)納米晶材料及下料，效率高、穩(wěn)定性好，節(jié)省人力。