本發(fā)明提供了一種可設(shè)置脈寬范圍更廣，脈沖邊沿時(shí)間更短，且能拓展觸發(fā)外接儀器，進(jìn)行時(shí)序控制數(shù)據(jù)采集的可靠的新型光電接近傳感器的電性能測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明包括TIB主控制板（1）、LED測(cè)量系統(tǒng)（2）、PD測(cè)量系統(tǒng)（3）及上位機(jī)（4），TIB主控制板分別與LED測(cè)量系統(tǒng)、上位機(jī)及待測(cè)產(chǎn)品（5）電信號(hào)連接，PD測(cè)量系統(tǒng)與待測(cè)產(chǎn)品的PD部相連接，LED測(cè)量系統(tǒng)包括脈沖發(fā)生器（21）和電壓電流采集測(cè)量?jī)x器（22），TIB主控制板包括主控MCU（11）、觸發(fā)電路（12）和輸入脈沖電流切換模塊（13），觸發(fā)電路觸發(fā)電壓電流采集測(cè)量?jī)x器的工作狀態(tài)。本發(fā)明可應(yīng)用于光電產(chǎn)品性能檢測(cè)領(lǐng)域。