本發(fā)明公開LCM、TP一體測試機(jī),將LCM測試機(jī)、TP測試機(jī)集成在一起,實(shí)施共地處理,以消除分開測試時LCM的零參考電勢與TP的零參考電勢存在差異引發(fā)的性能檢測偏差問題,從而提高檢測的正確性;LCM、TP測試可同步進(jìn)行,可提高檢測效率,還可由同一人進(jìn)行,節(jié)省人力的投入,降低測試成本。
聲明:
“LCM、TP一體測試機(jī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)