本發(fā)明涉及
儲(chǔ)能電容的健康診斷技術(shù),具體是一種儲(chǔ)能電容的BIT檢測(cè)電路。本發(fā)明解決了現(xiàn)有儲(chǔ)能電容的性能檢測(cè)方法無法幫助機(jī)載電子設(shè)備及時(shí)準(zhǔn)確地判斷儲(chǔ)能電容的性能的問題。一種儲(chǔ)能電容的BIT檢測(cè)電路,包括儀用放大器、電壓監(jiān)視器、不可再觸發(fā)單穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器、DSP
芯片、EEPROM芯片、第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、儲(chǔ)能電容、第二電容、第三電容、正電源端、負(fù)電源端;其中,儀用放大器的正輸入端通過第一電阻與正電源端連接;儀用放大器的負(fù)輸入端與負(fù)電源端連接;第二電阻的兩端分別與儀用放大器的正輸入端和負(fù)輸入端連接;儲(chǔ)能電容的兩端分別與正電源端和負(fù)電源端連接。本發(fā)明適用于機(jī)載電子設(shè)備。
聲明:
“一種儲(chǔ)能電容的BIT檢測(cè)電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)