本實(shí)用新型提供一種
芯片檢測(cè)裝置,包括:至少一個(gè)檢測(cè)頭和檢測(cè)主機(jī),所述檢測(cè)頭,包括多個(gè)探針和通信接口,所述探針用于與被檢測(cè)芯片的端子接觸以使所述探針與所述被檢測(cè)芯片通信連接;所述通信接口與所述探針連接,所述通信接口用于實(shí)現(xiàn)所述檢測(cè)頭與檢測(cè)主機(jī)的通信;所述檢測(cè)主機(jī)包括多個(gè)功能檢測(cè)電路和選擇電路,所述選擇電路用于選擇所需的功能檢測(cè)電路與檢測(cè)頭通信,以使所述檢測(cè)主機(jī)通過檢測(cè)頭對(duì)芯片執(zhí)行相應(yīng)的性能檢測(cè)。本實(shí)用新型芯片檢測(cè)裝置采用若干個(gè)功能檢測(cè)電路與選擇電路相配合的方式,選擇電路依據(jù)檢測(cè)需求選擇相應(yīng)的功能檢測(cè)電路,從而對(duì)芯片的不同功能實(shí)現(xiàn)檢測(cè)。
聲明:
“芯片檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)