本發(fā)明公開一種半導(dǎo)體制冷產(chǎn)品檢測方法，包括：步驟一：基于各類半導(dǎo)體制冷產(chǎn)品的能效標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)工況下，獲取滿足能效及性能要求的合格產(chǎn)品樣本的性能參數(shù)；步驟二：選取滿足步驟一中所述性能參數(shù)的樣機(jī)作為測試標(biāo)本，獲取測試標(biāo)本在不同環(huán)境溫度下的基準(zhǔn)性能參數(shù)，以此為數(shù)據(jù)基礎(chǔ)建立測試結(jié)果數(shù)據(jù)庫；步驟三：通過設(shè)置于檢測工位的檢測裝置，獲取檢測工位的當(dāng)前環(huán)境溫度；步驟四：調(diào)用測試結(jié)果數(shù)據(jù)庫中，處于當(dāng)前環(huán)境溫度下的基準(zhǔn)性能參數(shù)，將所調(diào)用的基準(zhǔn)性能參數(shù)與檢測工位上被測產(chǎn)品的測量性能參數(shù)進(jìn)行比較，判斷檢測工位上被測產(chǎn)品是否合格。本發(fā)明有效解決半導(dǎo)體制冷產(chǎn)品性能受環(huán)境溫度影響大、大批量性能檢測結(jié)果是否合格難以判定的問題。