本發(fā)明提供了本發(fā)明提出一種用于檢測(cè)射頻設(shè)備性能的測(cè)試平臺(tái)及射頻檢測(cè)電路,包括:劃分模塊,用于獲取目標(biāo)射頻設(shè)備的設(shè)備屬性,并向設(shè)備屬性匹配標(biāo)準(zhǔn)出廠(chǎng)狀態(tài)下的設(shè)備構(gòu)造,確定劃分線(xiàn)對(duì)目標(biāo)射頻設(shè)備進(jìn)行劃分;測(cè)試方式分配模塊,用于根據(jù)劃分類(lèi)結(jié)果,確定射頻塊,并基于射頻塊的塊屬性,分配對(duì)應(yīng)的性能測(cè)試方式;性能測(cè)試模塊,用于基于性能測(cè)試方式,完成對(duì)目標(biāo)射頻設(shè)備的性能檢測(cè)。提高測(cè)試效率,保證測(cè)試的可靠性。
聲明:
“一種用于檢測(cè)射頻設(shè)備性能的測(cè)試平臺(tái)及射頻檢測(cè)電路” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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