本申請(qǐng)公開了一種直角坐標(biāo)掃描架系統(tǒng)和拼接測(cè)量方法,所述直角坐標(biāo)掃描架系統(tǒng)包括掃描架豎直運(yùn)動(dòng)模塊、掃描架豎直固定模塊、掃描架水平運(yùn)動(dòng)模塊、掃描架直線平移模塊、調(diào)整墊鐵、平面度測(cè)量設(shè)備、水平儀和吸波材料;能夠解決現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)用掃描架系統(tǒng)屬于測(cè)量設(shè)備,在對(duì)靜區(qū)性能檢測(cè)后需要拆除,導(dǎo)致存在兼容性和可擴(kuò)展性較差,不便于重復(fù)利用的問(wèn)題,解決平面掃描架系統(tǒng)在大型、超大型緊縮場(chǎng)靜區(qū)性能檢測(cè)的通用性問(wèn)題,其通過(guò)無(wú)限制拼接的模式,能夠適應(yīng)更大行程的需求,且其在拼接的過(guò)程中,始終有原位置的水平模塊保持不動(dòng),因而能夠使得整個(gè)拼接過(guò)程延續(xù)原有位置的平面度。
聲明:
“一種直角坐標(biāo)掃描架系統(tǒng)和拼接測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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