本發(fā)明實施例公開了一種基于磁盤故障檢測方法、裝置以及相關設備,所述方法包括:獲取從第一類型磁盤中采集到的性能檢測數(shù)據(jù),作為第一樣本數(shù)據(jù);獲取從第二類型磁盤中采集到的性能檢測數(shù)據(jù),作為第二樣本數(shù)據(jù);根據(jù)第一樣本數(shù)據(jù)和第二樣本數(shù)據(jù)調(diào)整檢測模型,使調(diào)整后的檢測模型對第一樣本數(shù)據(jù)和第二樣本數(shù)據(jù)進行異常檢測得到檢測狀態(tài)結果與已知狀態(tài)結果之間的差異量小于差異閾值,并將所述調(diào)整后的檢測模型確定為用于對第二類型磁盤進行故障檢測的目標檢測模型。采用本發(fā)明,可以為數(shù)據(jù)體量小的磁盤進行準確的故障識別。
聲明:
“一種磁盤故障檢測方法、裝置以及相關設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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