本發(fā)明提供一種微型電機(jī)性能的并行檢測設(shè)備及其檢測方法,該設(shè)備包括轉(zhuǎn)臺、固定盤、下料機(jī)構(gòu)、若干個(gè)性能檢測機(jī)構(gòu)和若干個(gè)用于固定微型電機(jī)的固定夾具;所述固定盤固定安裝在轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)動(dòng)中心;性能檢測機(jī)構(gòu)和下料機(jī)構(gòu)分布設(shè)置在固定盤上,性能檢測機(jī)構(gòu)和下料機(jī)構(gòu)對應(yīng)在轉(zhuǎn)臺上的位置分別作為性能檢測工位和下料工位,上料工位設(shè)置在性能檢測工位和下料工位之間;固定夾具設(shè)置在轉(zhuǎn)臺上;控制轉(zhuǎn)臺轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)固定夾具上的微型電機(jī)在上料工位、每個(gè)性能檢測工位和下料工位之間替換,實(shí)現(xiàn)微型電機(jī)的性能項(xiàng)目同時(shí)并行檢測,或者實(shí)現(xiàn)一批微型電機(jī)的同項(xiàng)性能項(xiàng)目一次性并行檢測。本發(fā)明可大大提高檢測效率和檢測準(zhǔn)確性,為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測奠定基礎(chǔ)。
聲明:
“一種微型電機(jī)性能的并行檢測設(shè)備及其檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)