一種低碳鋼淬火態(tài)原奧氏體晶界的顯示方法,屬于鋼中原奧氏體晶界的物理檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。具體步驟及參數(shù)為:首先準(zhǔn)備樣品,樣品為低碳鋼淬火態(tài)試樣,C≤0.1wt%,獲得的拋光表面進(jìn)行面掃描;電鏡參數(shù)設(shè)置為加速電壓15kV~20kV等;掃描參數(shù)的設(shè)置中步長(zhǎng)的設(shè)置原則是不大于平均晶粒尺寸的十分之一;面掃描結(jié)束后數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行處理,通過(guò)對(duì)馬氏體板條束與原奧氏體的晶界取向差進(jìn)行分析,得到晶界取向差取值范圍為20~50°,由此計(jì)算出原奧氏體晶粒的尺寸。優(yōu)點(diǎn)在于,通過(guò)本方法準(zhǔn)確的計(jì)算出原奧氏體晶粒的尺寸,為研究相變過(guò)程中的組織演變提供重要理論依據(jù)。
聲明:
“一種低碳鋼淬火態(tài)原奧氏體晶界的顯示方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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