本實(shí)用新型公開了一種激光芯片光電性能檢測裝置，包括設(shè)有第一安裝座的底板，第一安裝座上滑動(dòng)安裝有第一動(dòng)力裝置驅(qū)動(dòng)的滑座，滑座上設(shè)有檢測臺；底板上還滑動(dòng)安裝有光強(qiáng)檢測機(jī)構(gòu)，光強(qiáng)檢測機(jī)構(gòu)的滑動(dòng)方向與滑座的滑動(dòng)方向垂直設(shè)置；位于滑座和光強(qiáng)檢測機(jī)構(gòu)之間的底板設(shè)有水平發(fā)散角檢測機(jī)構(gòu)，水平發(fā)散角檢測機(jī)構(gòu)的檢測端設(shè)有第一光電傳感器、并繞豎直軸心線進(jìn)行擺動(dòng)檢測，位于第一安裝座一端的底板設(shè)有豎直發(fā)散角檢測機(jī)構(gòu)，豎直發(fā)散角檢測機(jī)構(gòu)的檢測端設(shè)有第二光電傳感器、并繞水平軸心線進(jìn)行擺動(dòng)檢測。實(shí)現(xiàn)了在同一臺設(shè)備上完成光強(qiáng)、水平和豎直發(fā)散角的檢測，無需多次定位和移動(dòng)，簡化了檢測流程，減少了檢測時(shí)間，提高了檢測效率和檢測精度。