本發(fā)明涉及一種離子膜電解槽性能檢測(cè)系統(tǒng),包括位于電解車(chē)間內(nèi)的電解槽電壓采集模塊(1),其對(duì)多個(gè)電解槽(11)采集電壓,并通過(guò)遠(yuǎn)程I/O系統(tǒng)傳輸給可編程控制器(2),所述可編程控制器(2)還連接DCS用戶(hù)工藝控制系統(tǒng)(3),并接收來(lái)自DCS用戶(hù)工藝控制系統(tǒng)(3)設(shè)置的電解槽工藝參數(shù),所述可編程控制器(2)根據(jù)電解槽工藝參數(shù)計(jì)算電解槽閾值電壓,并與電解槽(11)的實(shí)際電壓進(jìn)行比較,超過(guò)閾值電壓,則控制報(bào)警器(4)進(jìn)行報(bào)警,同時(shí)將報(bào)警信號(hào)傳輸至中控室(5),不僅實(shí)現(xiàn)了電解槽系統(tǒng)運(yùn)行的自動(dòng)安全聯(lián)鎖的功能,更能通過(guò)對(duì)當(dāng)前電解槽性能的評(píng)估來(lái)預(yù)測(cè)未來(lái)電解槽性能的曲線(xiàn)。
聲明:
“一種離子膜電解槽性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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