本發(fā)明提供一種紫外分析儀計量性能檢測方法及其系統(tǒng),包括以下步驟:獲取紫外分析儀的測量數(shù)據(jù),根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)得到紫外分析儀的計量性能參數(shù);根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)、計量性能參數(shù)、以及預(yù)設(shè)的計量參數(shù)分數(shù)計算模型計算紫外分析儀的計量分數(shù)值,并根據(jù)所述計量分數(shù)值判定所述紫外分析儀的計量參數(shù)等級。本發(fā)明通過紫外分析儀的測量數(shù)據(jù),得到多項計量性能參數(shù),通過預(yù)設(shè)的計量參數(shù)分數(shù)計算模型結(jié)合所述測量數(shù)據(jù)、以及各項計量性能參數(shù)計算計量分數(shù)值,并判定所述紫外分析儀的計量參數(shù)等級。由于計量分數(shù)值通過計量參數(shù)分數(shù)計算模型結(jié)合所述測量數(shù)據(jù)、計量性能參數(shù)所得,其計算結(jié)果更全面,因此,提高了紫外分析儀計量檢測的可靠性、準確度。
聲明:
“紫外分析儀計量性能檢測方法及其系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)