本實用新型提供用于電子
芯片性能檢測用測試座,涉及測試座裝置技術領域,包括底座和測試板,所述測試板的底面設有轉換板,且轉換板與測試板的底面螺栓連接,且轉換板與測試板電性連接,所述轉換板的底面設有探針板,且探針板與轉換板的底面螺栓連接,且探針板與轉換板電性連接,所述測試板的底面固定有卡合塊。采用轉換板的設計,在測試板的底面設有可拆卸的轉換板,轉換板的底面設有測試用的探針板,且轉換板分別與測試板、探針板電性連接,這種設計使測試座可以測試不同規(guī)格的電子芯片,只需要簡單更換不同規(guī)格的轉換板和探針板,減少了測試成本。
聲明:
“用于電子芯片性能檢測用測試座” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)