本實(shí)用新型公開了一種3D激光探測(cè)器性能檢測(cè)系統(tǒng),包括底座,所述底座上設(shè)有通光盒體,所述通光盒體內(nèi)壁對(duì)稱設(shè)有數(shù)量為兩個(gè)的反光板,所述底座的一端固定設(shè)有殼體,所述殼體上固定設(shè)有支撐架,所述殼體的內(nèi)壁固定設(shè)有軸承,所述軸承上固定設(shè)有第一轉(zhuǎn)盤,所述第一轉(zhuǎn)盤上固定設(shè)有環(huán)形齒條,所述環(huán)形齒條一側(cè)嚙合設(shè)有齒輪,所述齒輪的中部固定設(shè)有連接桿,所述連接桿貫穿所述殼體,所述連接桿位于所述殼體外的一端設(shè)有旋鈕,所述第一轉(zhuǎn)盤上固定設(shè)有轉(zhuǎn)動(dòng)桿。有益效果:兩個(gè)數(shù)值進(jìn)行對(duì)比即可得到該3D激光探測(cè)器的測(cè)距是否準(zhǔn)確,大大的減少了場地的占用,能夠有效的利用有限的空間,并且,減少了相關(guān)人員的投入,使得檢測(cè)更加的方便快捷。
聲明:
“一種3D激光探測(cè)器性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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