本發(fā)明的成像鏡頭性能檢測(cè)系統(tǒng),屬于光學(xué)檢測(cè)的技術(shù)領(lǐng)域,解決現(xiàn)有的測(cè)試裝置沒有考慮照明背景光的影響,照明均勻性或者照明與標(biāo)記的對(duì)準(zhǔn)偏差勢(shì)必會(huì)引入信噪比的不一致性,致使測(cè)試精度較低的技術(shù)問題。其包括照明探測(cè)組件、測(cè)試標(biāo)記板、待測(cè)成像鏡頭組件、成像探測(cè)組件,所述測(cè)試標(biāo)記板上設(shè)置有可透光的測(cè)試標(biāo)記,其中:所述照明探測(cè)組件能夠生成點(diǎn)光源以照亮所述測(cè)試標(biāo)記;所述待測(cè)成像鏡頭組件能夠與所述測(cè)試標(biāo)記標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照,且能夠?qū)λ鳇c(diǎn)光源照亮后所述測(cè)試標(biāo)記進(jìn)行成像;所述成像探測(cè)組件對(duì)所述測(cè)試標(biāo)記所的成像進(jìn)行探測(cè),以測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照后相對(duì)位置的偏差,提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
聲明:
“成像鏡頭性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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