本申請(qǐng)公開了一種雙極型晶體管性能檢測(cè)裝置,包括:所述裝置包括:脈寬調(diào)制控制器、反相器、半橋驅(qū)動(dòng)器、被檢測(cè)對(duì)象、燈泡以及數(shù)字直流電壓表電流表,其中,所述被檢測(cè)對(duì)象包括單個(gè)被檢測(cè)晶體管或者由多個(gè)被檢測(cè)晶體管組成的晶體管模塊。上述方案,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測(cè)試IGBT是否準(zhǔn)確的導(dǎo)通與關(guān)段,結(jié)合萬用表可以準(zhǔn)確的測(cè)量出待檢測(cè)IGBT模塊半管的情況。
聲明:
“一種雙極型晶體管性能檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)