本實(shí)用新型公開一種含漏氣線束的電子器件密封性能檢測裝置,包括治具上、下模,其上設(shè)有型腔,含漏氣線束的電子器件隨形布置于型腔內(nèi),型腔的外側(cè)設(shè)置密封槽,密封槽內(nèi)設(shè)置有密封圈,密封圈上設(shè)置有容納槽,治具上模和治具下模對應(yīng)容納槽處分別設(shè)置有上卡緊塊和下卡緊塊,治具上模上設(shè)置有進(jìn)氣口,當(dāng)需要檢查含漏氣線束的電子器件密封性能時(shí),將治具上模和治具下模壓緊,上卡緊塊和下卡緊塊的楔形槽將密封圈頂起,將漏氣線束卡緊在容納槽內(nèi),含漏氣線束的電子器件被密封在型腔內(nèi),從治具上模的進(jìn)氣口向用于向型腔內(nèi)充氣,由氣密測試儀對含漏氣線束的電子器件進(jìn)行氣密性測試。有益效果:本檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單,密封性好,氣密性檢測可靠。
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“一種含漏氣線束的電子器件密封性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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