本發(fā)明公開(kāi)一種用于直流斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)的試驗(yàn)回路及試驗(yàn)方法，該試驗(yàn)回路采用等價(jià)替代的方式，有效替代為實(shí)現(xiàn)直流斷路器試驗(yàn)而建設(shè)的投資巨大的試驗(yàn)回路。該回路由低頻振蕩回路(或高頻振蕩回路)的電容經(jīng)高壓點(diǎn)火球、輔助開(kāi)關(guān)AB1、電抗器LS輸出到直流斷路器高壓端，輔助開(kāi)關(guān)AB2與限流電抗器串聯(lián)支路與直流斷路器支路并聯(lián)，該支路是直流斷路器保護(hù)回路，防止直流斷路器開(kāi)不斷電流，造成直流斷路器過(guò)度燒損或損壞。避雷器和球隙為保護(hù)設(shè)備，防止過(guò)電壓損壞試驗(yàn)設(shè)備。充電裝置CD1為電容器組CS充電，充電裝置CD2為電容器C0充電。并通過(guò)合理的時(shí)序整定，使觸發(fā)裝置于規(guī)定時(shí)間動(dòng)作以完成直流斷路器的試驗(yàn)檢測(cè)。