本發(fā)明公開(kāi)了一種晶體振蕩器的性能檢測(cè)方法,包括如下步驟:(a)包夾;(b)轉(zhuǎn)送;(c)檢測(cè);(d)逐個(gè)操作。本發(fā)明前后分步有序,互不干擾,自動(dòng)高效,逐個(gè)排查,不容易出錯(cuò),省力便捷,降低了人工勞動(dòng)強(qiáng)度和成本,有效固定晶體振蕩器,可進(jìn)行連續(xù)化檢測(cè)工作。
聲明:
“一種晶體振蕩器的性能檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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