本發(fā)明公開的一種CPU半導(dǎo)體導(dǎo)電性能檢測系統(tǒng),包括檢測臺,所述檢測臺左側(cè)端面上固定連接有升降支架,所述升降支架上設(shè)有斷針修復(fù)及導(dǎo)電性檢測切換機(jī)構(gòu),所述斷針修復(fù)及導(dǎo)電性檢測切換機(jī)構(gòu)上設(shè)有CPU針腳焊接機(jī)構(gòu),所述CPU針腳焊接機(jī)構(gòu)上設(shè)有左右對稱的焊接針腳磨圓機(jī)構(gòu),本發(fā)明的CPU針腳焊接機(jī)構(gòu)在焊接前對電烙鐵進(jìn)行預(yù)熱,在下移進(jìn)行焊接之前切斷電烙鐵電源,并使電烙鐵接地,從而避免電烙鐵在焊接過程中存在靜電,有效避免針腳焊接過程中靜電對CPU造成二次損傷,斷針修復(fù)及導(dǎo)電性檢測切換機(jī)構(gòu)能自動檢測CPU上斷針位置,CPU針腳焊接機(jī)構(gòu)能自動將銅絲焊接在CPU上。
聲明:
“一種CPU半導(dǎo)體導(dǎo)電性能檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)