本發(fā)明實施例公開了一種用于光模塊的雪崩光電二極管APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質(zhì)。該用于光模塊的APD性能檢測方法,適用于包括光模塊和光網(wǎng)絡單元ONU的光網(wǎng)絡,所述方法包括:選取至少一個光網(wǎng)絡單元標識ONU ID作為檢測ONU ID;為所述檢測ONU ID分配帶寬并且所述帶寬使能;獲取所述光模塊對于所述檢測ONU ID的接收光功率;基于所述接收光功率判斷所述光模塊中APD的性能是否劣化,可以及時發(fā)現(xiàn)光模塊的APD出現(xiàn)劣化,減小APD性能劣化對光網(wǎng)絡正常運行的影響。
聲明:
“用于光模塊的APD性能檢測方法、裝置、光網(wǎng)絡及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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