本發(fā)明提供一種射頻終端的性能檢測(cè)方法及系統(tǒng),所述射頻終端的性能檢測(cè)方法包括:引出與所述射頻終端相連的射頻
芯片的輸出管腳作為第一測(cè)試端口;引出與所述射頻終端相連的天線焊點(diǎn)作為第二測(cè)試端口;所述第一測(cè)試端口、所述射頻芯片、所述射頻終端、所述天線焊點(diǎn)構(gòu)成二端口網(wǎng)絡(luò);利用與所述第一測(cè)試端口和第二測(cè)試端口分別連接的測(cè)試設(shè)備測(cè)試所述二端口網(wǎng)絡(luò)的對(duì)應(yīng)射頻性能。本發(fā)明可以脫離射頻芯片,直接將射頻終端看作二端口網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行檢測(cè)和調(diào)試,能兼容更多的有源和無(wú)源測(cè)試方法,可分模塊化分析和解決射頻匹配類問(wèn)題,提高射頻輸出整體性能。
聲明:
“射頻終端的性能檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)