本申請公開了一種適用于霍爾
芯片的性能檢測裝置,包括兩個(gè)用于檢測霍爾芯片的電磁鐵、切換開關(guān)、可調(diào)夾持裝置;切換開關(guān)與所述電磁鐵電性連接,用于控制所述電磁鐵的通斷或/和磁場方向,可調(diào)夾持裝置用于夾持固定霍爾芯片并可根據(jù)所述霍爾芯片的厚度尺寸進(jìn)行調(diào)節(jié)。本申請的有益之處在于提供一種可根據(jù)霍爾芯片的厚度尺寸進(jìn)行調(diào)節(jié)固定的適用于霍爾芯片的性能檢測裝置。
聲明:
“適用于霍爾芯片的性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)