本發(fā)明實施例提供了一種硬盤性能檢測方法、裝置、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及電子裝置,其方法包括:獲取第一指令,其中,第一指令用于請求目標硬盤執(zhí)行目標處理;獲取第一指令的第一信息;基于硬盤信息將第一指令發(fā)送給目標硬盤;獲取到目標硬盤在基于第一指令執(zhí)行完目標處理之后,返回的第一指令響應(yīng);獲取第一指令響應(yīng)的第二信息;基于第一發(fā)送時間與第二發(fā)送時間的時間差以及處理量確定目標硬盤的性能。通過本發(fā)明,解決了相關(guān)技術(shù)中硬盤性能檢測不準確的問題,進而達到了提高硬盤性能檢測準確性的效果。
聲明:
“硬盤性能檢測方法、裝置、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及電子裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)