本發(fā)明公開了簡便快速測定痕量鈦的納米金共振散射光譜法,其特征是:測定方法包括如下步驟:(1)制備已知鈦濃度的檢測體系,并測定其共振散射強度IRS:(2)制備試劑空白體系;不加Ti(SO4)2溶液作空白,測其共振散射光強度(IRS)0;(3)計算ΔIRS=IRS-(IRS)0;(4)以加入的Ti(SO4)2溶液的嘗試為橫坐標,以ΔIRS為縱坐標,繪制工作曲線;(5)制備檢測體系,測定工業(yè)廢水中鈦的含量,求得被測樣品的ΔIRS;(6)根據(jù)工作曲線,求得被測樣品中鈦的濃度。本發(fā)明的優(yōu)點是設(shè)備簡單、操作方便,只需要熒光分光光度計即可完成;試劑易得,成本低廉。
聲明:
“簡便快速測定痕量鈦的納米金共振散射光譜法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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