本發(fā)明涉及一種
復(fù)合材料層間失效模式的檢驗(yàn)裝置及判斷方法,該裝置包括:寬帶光源,用于產(chǎn)生具有一定光譜帶寬的光信號(hào)。光纖耦合器,用于光信號(hào)耦合及分束,所述光纖耦合器的輸入端與寬帶光源連接。保偏光纖光柵傳感器,植入復(fù)合材料層間且用于檢測(cè)復(fù)合材料層間應(yīng)力的方向和大小,與所述的光纖耦合器進(jìn)行信號(hào)雙向傳輸。光電探測(cè)器,用于將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),光電探測(cè)器的輸入端與所述的光纖耦合器的一輸出端連接。信號(hào)處理模塊,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)處理和顯示,其輸入端與所述的光電探測(cè)器的輸出端連接。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:可以實(shí)現(xiàn)復(fù)合材料層間失效模式的在線實(shí)時(shí)檢測(cè),具有效率高、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“復(fù)合材料層間失效模式的檢驗(yàn)裝置及判斷方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)