本發(fā)明公開(kāi)了一種具備開(kāi)關(guān)電路的CAF測(cè)試板，包括測(cè)試基板，測(cè)試基板上設(shè)有正極測(cè)試端、負(fù)極測(cè)試端、至少兩組測(cè)試孔組、開(kāi)關(guān)電路以及與測(cè)試孔組數(shù)量相等的定位焊盤(pán)組，開(kāi)關(guān)電路位于相鄰測(cè)試孔組之間，各測(cè)試孔組的正極通過(guò)開(kāi)關(guān)電路并聯(lián)后連接至正極測(cè)試端，各測(cè)試孔組的負(fù)極并聯(lián)后連接至負(fù)極測(cè)試端；每組測(cè)試孔組包括間隔排列的多個(gè)測(cè)試對(duì)孔，每組定位焊盤(pán)組包括沿直線間隔排列的多個(gè)失效分析定位焊盤(pán)，各失效分析定位焊盤(pán)位于測(cè)試孔組一側(cè)并與測(cè)試對(duì)孔一一對(duì)應(yīng)連接。本發(fā)明能提高CAF性能測(cè)試效率及失效分析效率。