本發(fā)明涉及電池保護IC
芯片。本發(fā)明的目的在于提高鋰離子電池保護模塊中的充電放控制用FET的溫度檢測精度。本發(fā)明的技術(shù)方案中,控制IC芯片(120)除具有放電過電流檢測部(VD3)、充電過電流檢測部(VD4)外,還具有溫度檢測部(148)。通過將控制IC芯片(120)重疊地裝在充電控制用FET芯片及放電控制用FET芯片的上面,可以將溫度檢測部(148)配置成與充電控制用FET芯片及放電控制用FET芯片極為靠近,從而可以對充電控制用FET芯片及放電控制用FET芯片的溫度進行高精度的檢測。
聲明:
“電池保護IC芯片” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)