本發(fā)明提供了一種瀝青的X射線熒光光譜測定壓片樣品,目的在于解決現(xiàn)有瀝青雜質成分測定方法存在的制樣效率低、研磨器材清洗困難,設備損耗風險大的技術問題,屬于瀝青雜質成分
分析檢測領域,所述壓片樣品包含添加劑和瀝青,所述添加劑和所述瀝青的質量比≥1/5,所述添加劑包括硼酸、
碳酸鋰、鋰硼化合物、高分子烴類化合物和高分子碳水化合物中的至少一種。該壓片樣品制作方便、效率高,并且檢測過程中不會對檢測設備造成污染或損壞,進而有效提升瀝青雜質成分測定效率,降低瀝青雜質成分測定的成本。本發(fā)明還提供了一種瀝青的X射線熒光光譜測定壓片樣品的制樣方法。
聲明:
“瀝青的X射線熒光光譜測定壓片樣品及其制樣方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)