本發(fā)明公開了一種天線罩插入相位延遲測量方法，屬于微波測量領(lǐng)域，該方法包括調(diào)整兩個點聚焦透鏡天線在天線罩上的焦斑位置相重合且兩者成固定夾角；對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、點聚焦透鏡天線A、點聚焦透鏡天線B和穩(wěn)相電纜進行預(yù)處理；設(shè)定測量條件下，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量外表面加載金屬反射層的天線罩的焦斑位置的S₂₁參數(shù)相位天線罩位置、設(shè)定測量條件不變，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量內(nèi)表面加載金屬反射層的天線罩的焦斑位置的S₂₁參數(shù)相位通過插入相位延遲計算公式獲得插入相位延遲的大小；本方法有效解決了現(xiàn)有透射法存在測量盲區(qū)以及現(xiàn)有反射法存在無法寬頻測量、特定頻率測量失效等問題，提供了一種無盲區(qū)、寬頻帶、高精度天線罩IPD測量方法，為天線罩IPD逐點精密測量提供了可行的工程化解決方案。