存儲器可靠性由使用冗余修復(fù)可由ECC偵測的錯誤而被改良。在一具體實施例中,冗余修復(fù)無法由ECC修正的錯誤。冗余可利用電子熔絲的使用,在包含該存儲器的IC被封裝后激活修復(fù)。冗余亦可在該IC的封裝前被執(zhí)行。
聲明:
“集成電路中降低存儲器失效之方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)