本發(fā)明提供一種多失效模式下電子產(chǎn)品可靠性指標加速驗證方法,該方法通過建立加速因子矩陣,對矩陣進行分析運算,在綜合考慮多失效模式以及多應力水平的情況下,確定最優(yōu)的加速因子用以指導加速試驗設計;在此基礎上,通過建立加速試驗載荷譜,綜合利用加速因子、試驗時間以及產(chǎn)品的可靠性指標,最終確定合理的試驗時間用以驗證給定的可靠性指標;相較于傳統(tǒng)可靠性驗證試驗,該方法能夠有效縮短試驗時間,降低試驗費用。
聲明:
“多失效模式下電子產(chǎn)品可靠性指標加速驗證方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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