本發(fā)明涉及用熒光材料檢測熒光計的失效或性能惡化,具體涉及一種用于自檢熒光計的失效或性能惡化的系統(tǒng)和方法,包括安裝在載體上以相對于一個或多個固定熒光計移動的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物。使用所述熒光計初始測量所述熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度,并且在熒光計使用了一段規(guī)定時間后,使用熒光計測定熒光標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度的測試量值。將所述測試量值與所述初始量值相比較,并且基于所述測試量值與所述初始量值的偏差確定所述熒光計的失效或性能惡化。
聲明:
“用熒光材料檢測熒光計的失效或性能惡化” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)