本發(fā)明公開了一種高集成型分析物檢測(cè)系統(tǒng)，包括：底殼；探頭結(jié)構(gòu)，探頭結(jié)構(gòu)與底殼互相卡合，探頭結(jié)構(gòu)包括探頭和探頭基座，探頭包括信號(hào)輸出端和檢測(cè)端，信號(hào)輸出端向靠近探頭基座的頂部表面的方向彎曲或彎折，信號(hào)輸出端表面至少設(shè)置兩個(gè)互相絕緣的第一電連接區(qū)；和發(fā)射器，發(fā)射器與底殼互相卡合，發(fā)射器設(shè)置有與第一電連接區(qū)相對(duì)應(yīng)且互相絕緣的第二電連接區(qū)，每個(gè)第二電連接區(qū)與對(duì)應(yīng)的第一電連接區(qū)電連接。內(nèi)部緊湊的結(jié)構(gòu)使檢測(cè)系統(tǒng)體積更小，增強(qiáng)了用戶體驗(yàn)。