本發(fā)明涉及一種分布式SRAM失效分析方法及其系統(tǒng)。一種分布式SRAM失效分析方法，該方法包括以下步驟：A、獲取SRAM測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果作為原始數(shù)據(jù)并對(duì)其進(jìn)行失效分析，得到失效分析結(jié)果數(shù)據(jù)；B、對(duì)分析結(jié)果數(shù)據(jù)按預(yù)設(shè)的二進(jìn)制編碼規(guī)則進(jìn)行二進(jìn)制編碼壓縮，并將壓縮后的分析結(jié)果數(shù)據(jù)注入分布式數(shù)據(jù)庫(kù)中；C、從分布式數(shù)據(jù)庫(kù)中提取要進(jìn)行展示的分析結(jié)果數(shù)據(jù)，根據(jù)預(yù)設(shè)的二進(jìn)制解碼規(guī)則對(duì)提取的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，根據(jù)繪制時(shí)的分辨率要求，對(duì)解碼后的分析結(jié)果數(shù)據(jù)按預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)采樣規(guī)則進(jìn)行采樣后，在前端繪制展示。本發(fā)明能有效壓縮一片Wafer原有的占用空間，提高SRAM失效分析的效率。